研究人員已經(jīng)開發(fā)出一種“擠壓”可見光的方法，以便看到微小的存儲設(shè)備內(nèi)部。該技術(shù)將使研究人員能夠探究這些設(shè)備如何損壞以及如何在一系列應(yīng)用中提高其性能。

由劍橋大學(xué)領(lǐng)導(dǎo)的研究小組使用該技術(shù)研究了在操作中用于隨機存取存儲器的材料。研究結(jié)果發(fā)表在《自然電子》雜志上，可以對存儲設(shè)備中使用的這些材料進行詳細研究。

了解結(jié)構(gòu)變化如何表征這些材料的功能的能力對于提高其性能非常重要，這些材料用于低功率，超響應(yīng)器件(憶阻器)。但是，使用傳統(tǒng)技術(shù)很難在3D納米器件內(nèi)部查看。

為了解決這個問題，研究人員必須可靠地僅在數(shù)十億分之一米的范圍內(nèi)構(gòu)造空腔，該空腔足夠小以在設(shè)備內(nèi)捕獲光。他們利用了金納米粒子和鏡子之間的微小間隙，觀察了當(dāng)設(shè)備正常運行或發(fā)生故障時光是如何被修改的。

使用這種技術(shù)，當(dāng)幾乎沒有原子缺陷和微小的氧氣氣泡形成時，研究人員能夠觀察到從器件內(nèi)部區(qū)域散射的光的顏色變化。這使他們能夠識別多個周期內(nèi)的設(shè)備中斷機制。

負責(zé)這項研究的劍橋大學(xué)材料科學(xué)與冶金學(xué)系的Giuliana Di Martino博士說：“這項工作是在利用光來展示材料在有源設(shè)備中時的行為方面的一項重大進步。” “光在納米級與物質(zhì)相互作用的奇異物理原理使我們能夠?qū)崟r表征這些設(shè)備，其功能取決于材料在僅有幾個原子的空間中的行為方式。通過這種方式，我們可以揭示分解機理。循環(huán)并為針對大規(guī)模技術(shù)應(yīng)用的設(shè)備優(yōu)化開辟新途徑。”

了解確定設(shè)備故障機制的因素是開發(fā)節(jié)能高效的存儲設(shè)備的基本前提，也是通過數(shù)字化轉(zhuǎn)型和物聯(lián)網(wǎng)實現(xiàn)競爭性，數(shù)據(jù)驅(qū)動型經(jīng)濟并推動業(yè)務(wù)創(chuàng)新的基本目標(biāo)。