橡樹嶺國(guó)家實(shí)驗(yàn)室和韓國(guó)成均館大學(xué)的研究人員正在使用先進(jìn)的顯微鏡技術(shù)，為超越摩爾時(shí)代的計(jì)算和電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)納米工程材料。

從歷史上看，根據(jù)摩爾定律，計(jì)算機(jī)變得更快、更強(qiáng)大，這是隨著晶體管尺寸的縮小而技術(shù)進(jìn)步的觀察結(jié)果。今天的納米級(jí)晶體管正在達(dá)到實(shí)際極限，需要新的方法來擴(kuò)展現(xiàn)有技術(shù)。

ORNL納米相材料科學(xué)中心的一個(gè)團(tuán)隊(duì)?wèi)?yīng)用氦離子聚焦束來局部調(diào)整金屬氧化物薄膜中的鐵電性，從而增強(qiáng)晶體管和存儲(chǔ)器的有用特性。發(fā)表在《科學(xué)》雜志上的結(jié)果展示了光離子顯微鏡如何解鎖材料中的獨(dú)特功能并為設(shè)計(jì)未來設(shè)備創(chuàng)造新途徑。

“該項(xiàng)目突出了CNMS用戶可用的先進(jìn)離子束和掃描探針功能，這為本地控制和了解納米級(jí)材料特性開辟了新領(lǐng)域，”ORNL的利亞姆·柯林斯說。